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液晶显示模块（Liquid Crystal Module，LCM）的生产过程中，从印刷电路板整合进液晶显示面板（PCBI）的制程到各个模块的组装（Assembly），在待组装物、设备或是人员之间，不可避免都会有移动及接触与再分离的行为出现，因此在待组装物上必然会发生静电放电（Electrostatics Discharge， ESD）的现象。虽然在环境温度及相对湿度与接地都会做有效的管控，但对一些已知会产生ESD的工作点还是需要加以注意。特别是在LCM的玻璃偏光板（Polarizer）表面，都会有贴附一层防止刮伤的保护膜，在生产过程中必须移除这层保护膜，往往造成许多的静电电荷（Electrostatic Charge）大量残存在液晶玻璃面板内的显示组件与集成电路中，继而在后续的组装程序上，出现危险的组件储存电荷模式（Charged Device Model，CDM）之ESD或电性过压（Electrical Overstress，EOS）现象，进而造成半导体组件内部电路的破坏。部分已受ESD内伤的产品，有时还会到客户端才又被检测出来，后续严重的客退问题又造成产品成本的一大负担。盖板玻璃透光率,透过率检测灯箱,装置.吉林检测灯箱直销

简单来说mura是指液晶屏幕亮度和色度不均匀,造成各种痕迹的现象。为什么会有Mura产生？主要有以下因素：CF制程因为膜厚的Coating不均，会导致产生色不均之现象。Coating在涂布时如果喷嘴有阻塞的情况，即会造成VerticalMura。TFT制程OverLapTFT的主要构成为层与层之间的相互交叠，若某一层在制作过程中发生偏移就会产生异常，可能影响TFT的特性而造成Mura。LCD制程CellGapCellGap不均，会造成偏高或偏低阶的Mura现象。Spacer散布的均匀性及spacer本身原材料的均匀性都有可能影响Mura的产生。Roller因机台Roller的压力过大或是轮子上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Stage因机台Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura，或Stage的平整度不佳当经过制程机台后，亦有可能产生相关性的Mura。LCM制程Roller因机台Roller的压力过大或是滚轮上沾附异物，造成面板经过滚轮后而产生丸状或条状Mura。Vacuum因Stage吸力过大而造成吸附后形成StageMura。Black-Light：B/L本身膜材不良或其他来料造成异常亦会形成Mura现象。偏光片偏光片本身来料不良，造成偏贴后形成Mura。人为因素因拿取Panel方式不当，手指按压到面板的力量过大，易造成丸状Mura。河南专业检测灯箱联系方式薄膜,光学膜检测灯箱.

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检测灯箱寿命一直是大家关注的问题，影响寿命的因素有很多，主要有LED品牌选择、LED型号选择、发光效率设计、散热设计、外在偶发因素预防设计等。苏州啸百光电技术有限公司，结合多年的LED光源设计和客户使用经验，通过选用品牌LED确保来料品质，通过高规低用原则，即使用高规格LED在低规格（电流）下使用，同时结合不同光学膜片的选型，使检测灯箱的发光效率达到比较好。针对客户在后期使用，可能存在静电的问题提前做预防，可以确保检测灯箱内部的LED可以长时间正常使用，目前出货5年的产品，未反馈LED死灯不良和亮度大幅衰减问题。手持式玻璃液晶面板表面异物划痕检查检测灯。

手持式检查灯因其重量轻、高指向性、高亮、可以选择不同波段，在工业产品表面缺陷检测领域得到了广泛应用。我们日常照明的光源都是采用白光，但是用于高精度检查表面的微尘、刮痕的灯我们一般都采用绿光/黄光，这是为什么呢？因为黄光和绿光的波长范围分别为597~577nm,577·492nm，人眼在这两种光的环境下较高敏感度而且光线柔和不伤眼睛，特别是绿光表面检查灯，可精确检查到1um左右的微尘、刮痕灯瑕疵，被广泛应用于液晶玻璃、微刻模具、半导体晶圆、蓝宝石表面检查。苏州啸百光电技术有限公司主营检测灯箱和各种光学玻璃，通过光学镜片的光路设计和组合，结合不同波段的LED光源以及滤光片，可以实现定制光谱曲线、各种形状光斑的平行光，整体均匀性在80%以上，照度可达50万lux。目前产品在液晶显示行业、镀膜行业、半导体晶圆、太阳能基板、各式研磨抛光产品表面检测领域大量使用。AOI检测灯箱规格要求？河南玻璃外观检测灯箱台

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